JJG30-2012《通用卡尺》检定规程解读

海艄公

还好有这个规程的解读文章出来，要不我还真的误会了写规程的人脑袋进水，在此向规程编写者为以前的误会致歉！
示值误差按分段进行要求，这是正确应该的。版主说的内容，其实也有道理，不过呢，我要从另外一个角度来分析这些问题。
首先要明确一点，卡尺的使用是在什么样的一种需求场合。在二十多年前，我国的机械加工行业总体精度差，多数零件加工能够做到二三十个微米的精度已经算不错的了，因此卡尺就被定义成精密量具，但是即使如此，实际生产中如果某个尺寸标称的公差为0.02mm或者0.03mm，也没有人会用卡尺来进行最终的尺寸核定，要么使用千分尺，要么使用指示表比较测量，又或者使用显微镜测长仪一类的测量设备。如今的机械加工很多关键尺寸的误差控制范围往往已经到达微米级别，现在卡尺已经完全被降级为工具，而不能成为符合现代要求的量具定义。卡尺使用基本上都是在粗加工的场合，实际来说讨论一把卡尺的误差多0.01mm或者少0.01mm根本就没有实际意义。关于这一点这篇文章里面其实也提到了：卡尺是没有测量力控制的计量器具，同一操作者/不同操作者实际检测同一量值会有0.01~0.02mm的示值变化。其实作者描述的还是在检测室环境，用卡尺测量量块这种标准形状被测量物件的情况，而实际生产中粗加工品被测量位置的平面度、平行度往往是很不理想的，真正现场使用的测量不确定度会变得更大，甚至会出现测量结果的重复变化量比卡尺允许的误差还要大的情况。因此没有必要太过于追究卡尺本身误差是否多了或者少了那么0.01mm的事情。但是，从另外一个角度来看，对卡尺量具的误差不控制这也是完全错误的。现在的中国基本上找不出没有外压力也能主动对产品进行精益求精要求的企业，无限制的放任只能让这个行业迅速灭亡，也是对社会的不负责任——很多卡尺使用者并不了解卡尺，因此需要有计量检测机构进行卡尺的校验检测。
写规程的人，我认为他是非常为难的。一方面要顾及产品质量控制的程度要能够满足使用的要求，另外一方面又要顾及生产厂家的实际情况，不能给生产企业太多的不合理束缚，如果再有良心，还得要考虑中国工业的将来到底朝什么方向发展，为这个国家负责。
因此，关于版主提出的问题：如果示值要求是分段的，那么每段也应该检测均匀分布的三点，而不是按测量上限检测均匀分布的三点（五点）。没有错，严格来说的确如此，而我更进一步认为，真正严格的话，均匀分布三点不够，最好是均匀分布的三十点才合适。因为在量具厂做了许久的成品检验，我发现了有即使121.8mm误差合格但是150mm误差不合格的情况，为此量具厂对于150mm规格的卡尺检验是受检10 20  41.2  81.5  121.8  150mm这些点，针对有些客户还需要增加100mm这个受检点。但是如果规程真的将受检点设置成那么多，我想来这个论坛的同志们估计要暴动的。特别是规格大于300mm的，那样受检点被成倍增加，结果就是检测效率太过于低下。
如何兼顾产品的质量和检测效率，这是有学问的，要选择好均衡点，我认为现在的规程要求的受检点选择原则比较合理——对于游标、带表卡尺来说。而针对数显卡尺增加了细分检测的要求，也能够达到控制产品质量的目的。
选择使用测量范围上限大的卡尺，多数情况都是测量大尺寸的工件，而小尺寸工件往往也是选择小测量范围的卡尺。但是不能因为这个现状就走两个极端：要么就按最大测量的上限设定卡尺允许的允许误差，要么就要求卡尺的每个分段详细进行检测。既要对卡尺的精度进行合理的控制——但是不能控制过头，又要兼顾检测的效率，我想这就是规程里面受检点的选择与误差控制要求的综合体现。

王嘉怡

其实我想这个规程里面存在的问题，应该是新增加的数显卡尺检测细分这个部分。1-5mm这5个检测点其实并不能完全反映真正的细分问题。实际检测过程中，我一般要检细分是检测如下受检点：1  1.1  1.2~1.9 ，2，2.5，3，3.5~5.5，如此检测点比较而言够细密了吧，但是实际上还是发现过这种情况：按照这种方法检测细分合格的产品，实际上还是有真实上不合格的，例如，1.1和1.2误差0，但是1.15居然有误差达到0.02mm的。当然这是少数情况。
细分检测到底是为了个什么目的呢？其实细分检测的目的是保证在全程测量范围内的所有检测点（不是单指规程的那几个检测点）示值也能落在允许范围内。例如上述1.15mm细分误差为+0.02mm，按照5.08mm周期计算，50.8+1.15=51.95就是十个周期后其对应点，假如定栅生产的到50mm累积误差也是+0.02mm，那么51.95mm处的误差就累积到+0.04mm了，但是实际上这个受检点我们是没有机会检测到的，即使假设我们检测了51.9mm和52mm，误差也只是+0.02mm（不考虑尺身弯曲等等其它因素），可以判定产品合格。然而实际上在细分误差大的那些具体点的周期上往往是不合格的，只是我们没有检测到而已。
真正要让细分检测有意义，细分误差的要求就必须尽可能小，误差绝对值不能大于0.01mm，最好是零误差，另外受检点要尽可能细密。
如此一来，又回到刚才说过的问题：如何均衡质量与效率的事情。这个问题很头疼的。
总结而言，我认为现在规程提出细分检测是一种进步，但是进步不够彻底，不过又没有办法，只能要求到这个程度而已——至少目前是这样。

方小清

被这个规程解读搞糊涂了。且不说卡尺允差应不应该分段，单从规程描述上来理解，02版规程示值允差按分段要求，新12版规程示值允差仅与测量范围上限有关，每把卡尺只有一个测量范围上限(关于这一点，非常同意规矩湾老师的观点），也就是允差只有一个。我们也一直按规程要求是这么做的，和我们省计量院卡尺检定证书进行比较过，他们也是这样理解的。现在来了这么一个解读，与规程描述并不相符，现在不知如何是好。

李七三

　　xhxlplp 量友在20楼和21楼的帖子是真正花费了心血的，是实实在在的。
　　1.我赞成xhxlplp 关于在人类科技发展的新阶段情况下，卡尺因为其测量力控制机构不足、违背阿贝原则、游标放大原理不能把误差值放大更多倍等，限制了其准确度的进一步提高，已经降格为“粗加工的场合”使用的测量设备。
　　2.赞成xhxlplp 关于检定规程的制定既要考虑使用者的要求，也要考虑生产者的难处，还要考虑检定人员的工作量和工作效率，更应该考虑国家工业发展，兼顾国家利益。因此检定规程的制定者的确是非常“为难”的，他们的确不易。
　　3.卡尺按卡尺的测量范围上限给出示值误差允许值，这是卡尺规程的一个进步。按测量范围上限规定受检点，受检点个数按均匀分布3和6点是可以满足质量控制要求的。但如果解读为按“尺寸分段”的所谓“测量范围”（我多次说过这是偏离定义的不科学的测量范围说法）给出示值允差，检定规程规定按均匀分布3和6点确定卡尺受检点本身就是个严重纰漏，正如xhxlplp 所说，应规定均匀分布30点甚至更多的受检点。“受检点被成倍增加，结果就是检测效率太过于低下”，“这个论坛的同志们估计要暴动的”。
　　4.按卡尺的测量范围的上限规定示值允差，每一个卡尺的测量范围上限是唯一的，每一把卡尺的示值允差也只能是唯一的。因此，必须在宣贯中向卡尺使用者灌输选择测量范围上限大的卡尺测量大尺寸工件，而小尺寸工件必须选择小测量范围的卡尺。这和压力表等其它测量设备的选择原则完全相同，选择小量程的低精度压力表远比选择大量程的高精度压力表测量准确度高，这是测量人员的常识。
　　5.关于细分误差检定项目的增加，我认为也是一个进步。测量设备的所有与出具测量数据有关的零件及其组合都应该规定检定项目，这可以用测长机的检定作比喻。卡尺的读数零部件有主尺、游标尺、光栅尺，测长机的读数零部件有分米刻度尺、毫米刻度尺、微米刻度尺。按测量上限均匀分布的受检点的大尺寸是检定主尺刻度误差，相当于测长机导轨上的分米刻度尺示值误差检定；如0.2、0.5、0.8的尾数是检定游标刻度尺误差，相当于测长机毫米刻线尺示值误差的检定；细分误差则是检定光栅栅距的误差，相当于测长机微米刻度尺的示值误差。

祁笑

昨天听几个朋友说，最近这个规程很多计量所理解错误，说一份规程，同一把卡尺有判合格有判不合格的，而且都是当地的市和省所

尹子杀手

　　大测量范围的卡尺，在小尺寸段里的示值误差按小“测量范围的上限”规定的允差要求，很难是合格的。
　　以1500mm的卡尺按分段的所谓测量范围上限解读，测量上限为75mm、200mm、300mm、500mm、1000mm、1500mm，示值允差分别为0.02、0.03、0.04、0.05、0.07、0.11，而6个受检点大约的尺寸为250、500、750、1000、1250、1490。
　　首先，测量上限75和200内的示值误差就没有受检点而没有检定，而只检定到了测量上限为300及其以上的示值误差，检定规程规定的受检点就出现了问题。
　　第二，同一把量具示值允差要求的跨距为0.04到0.11，将近两倍半，如果算上74mm以内的允差0.02，跨距达５倍半。因此把测量范围的上限解读为分段有不同的测量上限，从这点上说也是令人费解的，是不科学的。
　　第三，不同的解读势必引起业界同行有不同的理解，势必造成同一把卡尺有判合格有判不合格。如果解读为一把卡尺只有一个测量范围（这是符合测量范围定义的），因此只有一个测量范围上限，也就只有一个允差要求，即0.11mm的要求，对同一把卡尺也就不会有人说合格，有人说不合格了。